电子散斑干涉载频调制形貌测量技术
DOI:
CSTR:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

TN247

基金项目:

山东省科技攻关项目


Shape measurement by carrier modulation in electronic speckle pattern interferometry
Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    提出了电子散斑干涉(ESPI)载频调制测量物体形貌的方法.在ESPI中,物体表面的微小偏转可引入包含物体高度信息的载波干涉条纹,具有灵敏度高的优点.用摄像机采集该载波条纹图,利用傅里叶变换法可解调出物体高度的位相信息,从而实现物体的形貌测量.

    Abstract:

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

孙平,黄珍献,刘菲.电子散斑干涉载频调制形貌测量技术[J].光电子激光,2008,(4):525~527

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:2007-03-23
  • 录用日期:
  • 在线发布日期:
  • 出版日期:
文章二维码