根据自由基发光理论,本文用MPL-A多参数化学发光分析系统测得了由Mn 3引发的淀粉自由基发光强度的变化曲线,阐述了自由基发光强度的变化规律;并通过对发光曲线的拟合发现:自由基的消失过程遵循logistic公式.通过分析得出x0即为自由基的半衰期,A1为x→0时样品的发光强度,A2表示x→ ∞时样品的发光强度,P为发光样品中影响自由基消失因素的系数表示.本研究是光电检测技术在淀粉工业中的新的应用,为淀粉自由基消失规律提供了数学模型.