生长速率对反应蒸发制备ITO薄膜光电性能的影响
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O484

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国家重点基础研究发展计划(973计划) , 天津市科技发展基金 , 天津市自然科学基金


Preparation and Properties of Indium Tin Oxide Films Deposited by Reactive Evaporation at Different Deposited Rate
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    用电阻加热反应蒸发的方法制备氧化铟锡(ITO)薄膜,测试了膜的电阻率、可见光透过率、载流子浓度和迁移率,讨论生长速率对薄膜光电性能的影响.并在衬底温度为160 ℃、反应压强为1.4×10-1 Pa的条件下,制得可见光范围平均透过率为93%、电阻率为4.7×10-4 Ω·cm的ITO透明导电薄膜.

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引用本文

李林娜,孙建,薛俊明,李养贤,赵颖,耿新华.生长速率对反应蒸发制备ITO薄膜光电性能的影响[J].光电子激光,2007,(1):24~26,29

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  • 收稿日期:2006-03-31
  • 最后修改日期:2006-06-14
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