由于平板探测器对有无试件射线能谱响应的灵敏度不同，致使利用射线透照成像对试件投影估计的对比度降低，影响了对细节的可检出性。通过分析射线成像检测的数理模型，提出等效能谱透照成像方法，对探测器灵敏度进行校正。利用无缺陷的高密度材料等被检试件，进行背景成像，实现在有无试件情况下的探测等效能谱成像。与常规校正法对焊接板进行实验对比研究结果表明，等效能谱法增强了成像的可视化效果，通过像质计灵敏度实验，其对比度灵敏度提高了20-40灰度级；提高了检测中诸如未焊透和裂纹等微小细节的可检出性。