一种测量体光栅调制度和有效厚度的新方法
DOI:
CSTR:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

TN247

基金项目:


A Novel Method for Measuring Modulation Depth and Effective Thickness of Volume Gratings
Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    以Kogelnik的体相位光栅耦合波理论为基础,通过测量光折变体光栅的衍射效率与布喇格偏移角的关系曲线,并根据该曲线的3dB带宽和旁瓣峰值的相对大小及其角度偏移量,可计算出光折变体光栅的折射率调制度和有效厚度。对LiNbO3:Fe晶体的实验测量结果很好地验证了该方法的可行性,其测量精度与数字全息术和马赫一曾德干涉仪的方法相当,但测量过程却更加简单。

    Abstract:

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

李继锋 赵建林 邸江磊.一种测量体光栅调制度和有效厚度的新方法[J].光电子激光,2005,(3):340~343

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:
  • 录用日期:
  • 在线发布日期:
  • 出版日期:
文章二维码