高倍速光盘抖晃测试系统设计
DOI:
CSTR:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

TP333.4

基金项目:

国家重点基础研究发展规划"973"资助项目(G19990330)


Design on Measurement System for Jitter of High-speed Optical Disc
Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    在脉冲计数法的基础上结合边沿检测技术,设计了一种可用于高倍速的光盘抖晃测试系统,代替传统的时间间隔分析仪(TIA)。系统最大测量误差仅504ps,最高可工作在32倍速下。基于现场可编程门阵列FPGA芯片实现,结构简单、精度高、成本低及测试速度快,在盘片质量检测和抖晃特性研究领域有广泛的应用前景和实用价值。

    Abstract:

    A novel system was designed to measure jitter of high-speed optical disc.based on counter method and edge sense technology.Maximum error is only 504 ps and maximum speed is up to 32 x speed.Implemented in FPGA,the system has merits such as simple structure,high precision,low cost and short test time.There is an important use value in quality evaluation of optical disk as an elegant alternative to the time-interval analyzer(TIA).

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

谢登科 齐国生 徐端颐 张启程.高倍速光盘抖晃测试系统设计[J].光电子激光,2004,(3):279~282

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:
  • 录用日期:
  • 在线发布日期:
  • 出版日期:
文章二维码