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光纤端面多层膜反射率的干涉测量方法研究
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[cstr]
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TN818 O484.41

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Study on Interferometry for Reflectivity of Multi-layer Dielectric-Films Grown on the End of Fibers
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    为了解决光纤端面透明反射膜反射率的精确测量问题，利用镀有反射膜的待测光纤端面，构成法布里—珀罗(F—P)干涉仪，根据其透射光谱的自由谱宽和干涉峰的半宽值，计算出膜系反射率，避免了光源波动对测量结果的影响。在用反射率为92．0-98．6％的膜系所进行的实验中，测量误差小于0．09％。分析了误差来源。

    Abstract:

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引用本文

魏仁选 姜德生.光纤端面多层膜反射率的干涉测量方法研究[J].光电子激光,2003,(4):399~401

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  • 最后修改日期:2002-10-09
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