首页 > 过刊浏览>2003年第卷第10期 >1070-1073
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ESPI技术测量静态和准动态面内位移
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TN911.73

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Measurement of Quasi-dynamic in-Plane Displacement of Thin Plate Using ESPI Technique
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    利用高速CCD摄像技术和电子散斑图干涉(ESPI)法，研究了薄板的静态和准动态面内位移测量技术。采用小光圈成像技术和图像灰度进行线性变换的图像处理技术，实现对散斑图像的低通滤波和高通增强处理，提高了散斑条纹的对比度和清晰度，为条纹图的定量处理提供了方便。

    Abstract:

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引用本文

杨福俊 何小元 庄春泉. ESPI技术测量静态和准动态面内位移[J].光电子激光,2003,(10):1070~1073

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  • 最后修改日期:2002-11-11
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