首页 > 过刊浏览>1999年第卷第2期 >135-138
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光散射粒度测量中Mie理论的高精度算法
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TB44 O436.2

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High Precise Algorithm of Mie Scattering in the Particle Sizing by Light Scattering
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    本文在以往计算Ｍｉｅ散射计算的基础上提出一种新的算法。本算法区别于传统的递推算法，精度高、计算范围广。文中推导了该算法的公式，分析了递推公式的不稳定性和应用上的局限性，并指出了本算法的优势。最后给出了部分计算结果并与已发布数据进行了比较。本算法适用的颗粒当量直径为１ｅ５￣１ｅ＋５，折射率虚部０￣１ｅ＋５。

    Abstract:

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引用本文

朱震 叶茂.光散射粒度测量中Mie理论的高精度算法[J].光电子激光,1999,(2):135~138

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