用表面等离子体谐振(SPR)测量物质的折射率
DOI:
CSTR:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

TN751.207

基金项目:

国家自然科学基金


Determination of Refractive Index by Surface Plasmon Resonance
Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    本文介绍一种用表面等离子体谐振间接测量物质折射率的新方法。从理论上对这种方法作了论证,运用这种方法对LB膜做了测试实验,推算出其折射率,并且分析了这种方法适用特点。

    Abstract:

    A new method (Surface Plasmon Resonance) is introduced which can be used to determine indirectly refractive index in this paper.The theory of this method is given.The method is used to determine resonance angles of different layers of LB film,then their refractive indexes are calculated.Finally applied characteristics of the method is explained.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

赵杰 崔大付.用表面等离子体谐振(SPR)测量物质的折射率[J].光电子激光,1999,(1):40~41

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:1998-08-20
  • 录用日期:
  • 在线发布日期:
  • 出版日期:
文章二维码