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TFT矩阵动态检测系统
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TN321.5

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    本文介绍了基于电荷测量原理的ＴＦＴ矩阵自动检测系统，该系统可以对ＴＦＴ矩阵进行多参数的检测，并可用来统计矩阵的成品率及分析ＴＦＴ的动态特性。

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莫希朝 王宗畔. TFT矩阵动态检测系统[J].光电子激光,1997,(1):61~65

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