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液晶取向层微双折射的测量研究
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O753.2 TN206

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    用旋转检偏器和锁相放大器测量圆偏振光经过样品（双折射片）后其偏振态的微小改变，进而测得样品的相延量δ，测量标准偏差为１０＾－２ｎｍ。

    Abstract:

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引用本文

朱鹤年 张建红.液晶取向层微双折射的测量研究[J].光电子激光,1997,(1):47~50

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