廖明乐,武保剑,黄维,邱昆.硅基光子交换芯片的路由控制与性能测试[J].光电子激光,2017,28(9):933~940
硅基光子交换芯片的路由控制与性能测试
Routing control and performance test of silicon-based photonic switching chip
投稿时间:2017-02-21  
DOI:
中文关键词:  光开关  路由算法  载流子吸收
英文关键词:optical switch  routing algorithm  free carrier absorption
基金项目:国家自然科学基金(61271166,8)和教育部长江学者和创新团发展计划(IRT1218)资助项目 (电子科技大学 光纤传感与通信教育部重点实验室,四川 成都 611731)
作者单位
廖明乐 电子科技大学 光纤传感与通信教育部重点实验室,四川 成都 611731 
武保剑 电子科技大学 光纤传感与通信教育部重点实验室,四川 成都 611731 
黄维 电子科技大学 光纤传感与通信教育部重点实验室,四川 成都 611731 
邱昆 电子科技大学 光纤传感与通信教育部重点实验室,四川 成都 611731 
摘要点击次数: 1114
全文下载次数: 0
中文摘要:
      设计了电压输出范围分别是0~10 V和0~2V、调节精度为10mV的可扩展热 控电路和电控 电路,用于实现16×16光子集成芯片的工艺误差补偿和光开关切换。 描述了由硅(Si)基马赫-曾德尔(MZI)光开关单元组成的16×16光 子集成芯片控制过程,提出了基于光开关传输性能的改进环路 路由算法,此算法适用于光开关性能劣化或局部出现故障的情形。搭建了运行有改进路由算 法的光交换芯片测试系统,实验 结果表明,芯片模块的插入损耗小于33dB,串扰小于-10dB,能够实现无误码传输要求。
英文摘要:
      The large-scale ex tensible thermo-optic and electro-optic controlling circuits with the output voltage ranges of 0-10V and 0-2V (tuning resoluti on of 10mV) are designed respectively,in order to compensate for the fabrication error and drive the optical switch elements of 16×16integrat ed optical switching chip.We describe the control process of the 16×16integrated optical switching chip,which is composed of Mach-Zehn der interference (MZI) switch elements.A modified looping algorithm to route data based on the optical switching performance is proposed,which can be applied for the cases with deterioration or partial failure of the switch ing elements.We set up the test platform for the silicon-based integrated photonic switching chip with the modified looping algo rithm,and the measured results show that the insertion loss and crosstalk of the chip module are below 33dB and -10dB,respectively, which meet the requirement for error-free transmission in optical communication system.
查看全文    下载PDF阅读器
关闭

版权所有:《光电子·激光》编辑部  津ICP备12008651号-1
主管单位:天津市教育委员会 主办单位:天津理工大学 地址:中国天津市西青区宾水西道391号
技术支持:北京勤云科技发展有限公司